专利名称: 采用纳米光镊技术将ZnO纳米线定位到场效应管衬底的方法
申请号: 200810238871.1
申请日期: 2008-12-03
专利号: CN101752249A
第一发明人: 黎明
专利摘要: 本发明公开了一种采用纳米光镊技术将ZnO纳米线定位到场效应管衬底的方法,该方法包括:在衬底上涂一层光刻胶,用源漏阳版光刻显影,形成按一定规律排列的源漏PAD;将ZnO纳米线超声降解于异丙醇溶液中,采用纳米光镊技术微操作ZnO纳米线,移动ZnO纳米线的位置,将ZnO纳米线作为场效应管的沟道与该源漏PAD的两端形成欧姆接触;再蒸发Ti/Au金属形成源漏金属PAD,实现将ZnO纳米线定位到场效应管的衬底。本发明具有成效明显,工艺简单易行,经济适用和可靠性强的优点,易于在半导体器件制作中采用和推广。