论文编号: 1725110120150162
第一作者所在部门: 研究生1,硅器件中心
论文题目: 0.2 μm FDSOI NMOSFET的背栅效应及总剂量辐射响
作者: 赵星
刊物名称: 第十二届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会
: 2015
: 1
: 32-32