论文编号: 1725110120150198
第一作者所在部门: 先导中心
论文题目: Thickness optimization for lithography process on different silicon substrate
作者: 苏晓菁
刊物名称: Proc. of SPIE
: 2015
: 94
: 25
: 1-14
联系作者: 韦亚一
影响因子: 0