| 论文编号: | 1725110120150327 |
| 第一作者所在部门: | 研究生5，微电子重点实验室 |
| 论文题目: | Methodology for stability evaluation on the multi-level storages of oxide-based conductive bridge RAM (CBRAM) |
| 作者: | 许晓欣 |
| 刊物名称: | Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2015 IEEE 22nd International Symposium on the |
| 年: | 2015 |
| 期: | 0 |
| 页: | 543-574 |
| 联系作者: | 吕杭炳,刘明 |
| 影响因子: | 0 |
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