| 论文编号: | 1725110120140233 |
| 第一作者所在部门: | 十室一组 |
| 论文题目: | TDDB characteristic and breakdown mechanism of ultra-thin SiO2/HfO2 bilayer |
| 作者: | 陶芬芬 |
| 刊物名称: | Journal of Semiconductors |
| 年: | 2014 |
| 卷: | 35 |
| 期: | 6 |
| 页: | 64003 |
| 联系作者: | 陶芬芬 |
| 影响因子: | 0.371 |
| 论文编号: | 1725110120140233 |
| 第一作者所在部门: | 十室一组 |
| 论文题目: | TDDB characteristic and breakdown mechanism of ultra-thin SiO2/HfO2 bilayer |
| 作者: | 陶芬芬 |
| 刊物名称: | Journal of Semiconductors |
| 年: | 2014 |
| 卷: | 35 |
| 期: | 6 |
| 页: | 64003 |
| 联系作者: | 陶芬芬 |
| 影响因子: | 0.371 |
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