辐射加固SOI工艺FPGA的设计与验证--中国科学院微电子研究所

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论文编号:	172511O120110146
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论文题目:	辐射加固SOI工艺FPGA的设计与验证
论文题目英文:
作者:
论文出处:
刊物名称:	11届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会
年:	2011
卷:
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联系作者:	于芳
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备注:	11届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会

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