| 论文编号: | 1725110120160179 |
| 第一作者所在部门: | |
| 论文题目: | Current compliance impact on the instability of HfO2-based RRAM devices |
| 论文题目英文: | |
| 作者: | 张美芸 |
| 论文出处: | |
| 刊物名称: | IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop 2016 |
| 年: | 2016 |
| 卷: | |
| 期: | 16341902 |
| 页: | 1 |
| 联系作者: | 龙世兵 |
| 收录类别: | |
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| 备注: | |
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